台灣微現科技

X射線偵測系統

多光譜一體機

多光譜一體機

VID-V1X1-C4016

基於X射線、可見光、近紅外線等光譜的物理特徵,對產品表面污漬及封夾、內部缺陷及異物、新鮮度等缺陷進行識別,有效解決各類具有挑戰性的食品生產品質問題。
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